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板石智能科技(深圳)有限公司

精密测量仪器与半导体量测设备

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优可测白光干涉仪AM7000系列-轮廓仪/三维形貌测量
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产品: 浏览次数:9优可测白光干涉仪AM7000系列-轮廓仪/三维形貌测量 
品牌: 优可测
RMS重复性精度: 0.002nm
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2026-09-11 15:59
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详细信息

优可测白光干涉仪主要功能:

1. 微观 3D 形貌测量:对精密器件及材料表面进行亚纳米级别测量,获取表面 3D 形貌。

2. 测量工具丰富:涵盖多种国际标准测量工具,可进行多种测量分析。

设备优势:

1. 精度高:最高 RMS 重复性可达 0.002nm,任意放大倍率下检测精度 < 1nm。

2. 速度快:最高扫描速度 400um / 秒,搭配算法可瞬间完成高点数云采集。

3. 大视野:可拼接测量,最大视野 300mmX300mm(选配)。

4. 功能多样:适用于多种行业,可进行在线和离线测量,SDK 可开放。


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